Pruebas de quemado ((burn-in) y envejecimiento del dispositivo

 Pruebas de quemado ((burn-in) y envejecimiento del dispositivo Subcripcion newsletter Electrónica OLFER

Autor: Willard Wu, Servicio técnico de MEAN WELL

Traducción: Departamento de Marketing de Electrónica OLFER

El cambio climático ha provocado que seamos más consciente y estemos cada vez más implicados en ejercer políticas e invertir en tecnologías para moderar y afrontar este impacto, por ello, los gobiernos implantan una serie de regulaciones para el control de emisiones de CO2, como son las tarifas y los impuestos al carbono.

Desde Electrónica OLFER os hablamos de nuestro fabricante MEAN WELL que también se enfrenta al problema de las emisiones masivas de carbono. Los fabricantes de productos y equipos electrónicos deben someter a pruebas de quemado y envejecimiento en el proceso de producción de la fuente de alimentación para eliminar productos defectuosos con antelación.

MEAN WELL ha desarrollado un sistema de energía para estos test de quemado, en el que incluye los nuevos inversores de la serie ERG-5000 (H) que distribuirá Electrónica OLFER en España y Portugal.

Las pruebas tradicionales de quemado en su mayoría tienen una pérdida de energía es del 100%. Cuando utilizamos el sistema con la ERG-500 (H) la energía CC se convierte en CA y se realimenta a la red, pudiendo reciclar hasta un 80% de la energía. Es una contribución significativa al ahorro energético y a la reducción de emisiones de carbono.

Entre sus características destacan:

Potencia nominal de 5Kw y un máximo de 6Kw. 
Tasa de ahorro de energía hasta un 88%. 
Modo Burn-in a elegir: CC o CV.
4 canales combinables con la aplicación del dispositivo: en serie o en paralelo. 
Protocolo de comunicación CANBus. 
Rango de entrada de ERG-5000: 10-60V.
Rango de entrada de ERH-5000H: 60-420V. 
Protocolo CANBus incorporado y compatible con CMU2A.
Figura 1. Diagrama del sistema de quemado de reciclaje de energía

 

Figura 1. Diagrama del sistema de quemado de reciclaje de energía